Caracterização & Metrologia

  • Microscópio óptico de inspeção com capacidade de até 8" Nikon modelo Eclipse L200

      Pesquisador visualizando circuito eletrônico no microscópio óptico de inspeção Nikon modelo Eclipse L200
      • Descrição: Microscópio óptico para inspeção de wafer e máscaras de 200 mm para identificação de defeitos por iluminação com luz refletida com vários métodos de observação, como campo claro, campo escuro, polarização simples e DIC.
      • Ano de fabricação: 1992