Microscopia

  • Microscópio eletrônico de varredura com litografia por feixe de elétrons – FEG-SEM Tescan modelo Mira 3 XMU equipado com EDS 60 mm Bruker

      • Descrição: O microscópio é um FEG (Field-Emission Gun) modelo Mira 3 XMU fabricado pela Tescan. Possui resolução de 1.0 nm em 30kV, vários detectores (SE, BSE, EBIC, STEM e EDS) e sistema de litografia por e-beam. O porta-amostra permite acomodação de amostras de até 10x10x5cm. O sistema permite a fabricação e caracterização de nanoestruturas e nanomateriais, realização de análise de falhas em componentes e circuitos eletrônicos, e caracterização de materiais e objetos obtidos por impressão 3D.
      • Ano de fabricação: 2018
  • Microscópio de Força Atômica Nanosurf modelo EasyScan 2

      • Descrição: O sistema de microscopia de força atômica de fácil operação com interface de rápido e intuitivo aprendizado e ideal para análise de sistemas nanoestruturados dispositivos e materiais. Podendo operar nos modos contato e não contato com as técnicas AFM-CM/NCM, EFM, MFM, nanolitografia, etc.
      • Ano de fabricação: 2010
  • Microscópio óptico com fluorescência Olympus modelo MX61

      • Descrição: Microscópio óptico e de fluorescência com sistema de aquisição de imagens com câmera CCD SC30 de 1,024 x 768 pixels e software para tratamento e análise de dados, possuí 5 objetivas de 5, 10, 20, 50 e 100x com mudança automática podendo fazer medidas em campo claro e campo escuro, com luz refletida (Xenon) e transmitida de tungstênio. Possui filtros polarizadores com ajuste de ângulo, filtros de densidade óptica de 25% e 6% e filtro para microscopia de fluorescência com banda passante entre 450- 480nm.
      • Ano de fabricação: 2009