Caracterização & Metrologia

  • Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X (XRF) Fischer modelo XDV-SD

      • Descrição: A fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica que pode ser utilizada para determinar a composição química de uma ampla variedade de tipos de amostras, incluindo sólidos, líquidos, pastas e pós soltos. A fluorescência de raios X também é usada para determinar a espessura e a composição das camadas e revestimentos. Os revestimentos que o modelo XDV-SD pode analisar incluem ouro, paládio e qualquer outro metal precioso com espessura ≤0,1 μm. A unidade opera com base nas especificações dos padrões RoHS e WEEE. Também é ideal para medir revestimentos funcionais nas indústrias eletrônica e de semicondutores.
      • Ano de fabricação: 2010
  • Sistemas de medidas elétricas por 4 pontas Jandell modelo 3000+ com RM3000 Test Unit

      • Descrição: O sistema de medida de resistividade superficial na faixa de 1 mohm/quadrado a 5 x 10+8 ohms/quadrado com precisão de 0,3% em amostras de até 12” x 12 ”x 6”. Unidade de teste inclui software de controle para PC, que pode ser usado para registro de dados e conversão de medidas em ohms por quadrado ou ohms-cm.
      • Ano de fabricação: 2018